테스트 장치 및 이를 포함하는 테스트 시스템[TEST DEVICE AND TEST SYSTEM INCLUDING THE SAME]
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최고관리자 0 Comments 1 Views 20-11-10 15:46 기계본문
- 기술 정보
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기술분야
반도체
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현재 권리자
삼성전자 주식회사
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Main IPC
G01R-031/26
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존속기간 만료예정일
2033-08-21
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출원번호
(출원일)10-2013-0099169
(2013-08-21)
(2013-08-21) -
등록번호
(등록일)10-2055335
(2019-12-06)
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기술분야
- 기술개발 목적
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- 반도체 칩 테스트 과정에서 반도체가 파괴되는 현상을 방지할 수 있는 테스트 장치를 제공함
- 종래 테스트하고자 하는 반도체 칩의 특정 패드에 전류나 전압을 인가하여 DC 테스트를 수행 하는 경우, 칩 내부의 반도체가 파괴되는 문제점을 해소함
- 기술의 효과
- - 테스트 장치는 테스트부 및 전압 선택부를 포함하되, 테스트부는 테스트 전류를 테스트 대상 장치의 테스트 패드에 인가하여 테스트 응답 전압을 검출하고, 테스트 응답 전압에 기초하여 테스트 대상 장치의 DC 테스트를 수행하며, 전압 선택부는 테스트 모드에 따라서 복수의 전압 들 중 하나를 선택하여 테스트 대상 장치의 접지 전압 패드에 선택 전압을 인가하고, 테스트 응답 전압이 음의 값으로 측정되지 않도록 선택 전압을 선택함으로써, 테스트 과정에서 테스트 대상 장치가 파괴되는 현상을 방지할 수 있음
- 적용 산업분야
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*출처 : 삼성전자
반도체
- 시장규모 및 전망
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*출처 : WSTS(2020.12), IC Insights 및 수출입은행
반도체 시장은 2019년 2,269억 달러에서 연평균 7.6% 성장 하여 2025년 3,389억 달러의 규모로 전망됨